高溫鐵電測試儀

一  高溫鐵電測試儀簡介：

鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性，可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。

二  系統(tǒng)：

本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，并且能實現(xiàn)較高的測量度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù)，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計，實現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡單方便。

三  技術(shù)參數(shù)：

電壓范圍：±30V（可擴(kuò)展至±4KV）

輸出電流峰值：±1
zui大負(fù)荷電容：1μ

動態(tài)電滯回線測試頻率：0.001Hx～100kHz

鐵電材料漏電流的測試：10pA～100mA

zui小脈沖寬度：25ns

上升時間：7ns

極化測試到：10fC

塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫～1200℃電滯回線測定