1、本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。

　　2、四探針軟件測試系統是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數據并對測試數據進行統計分析。

　　3、具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。高的精度的輸出與測量規格，保障檢測結果的品質，適用于新材料數據的檢測。

　　4、測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。

　　5、用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析。

　　二：高溫四探針測試儀的特點：

　　1、采用雙電測組合測量模式，不用進行系數修正。

　　2、可以測量高溫、真空、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率。

　　3、可以分析方塊電阻和電阻率隨溫度變化的曲線。

　　4、可以自動調節施加在樣品的測試電壓，以防樣品擊穿。

　　5、高耐磨碳化鎢探針探頭，測量硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻。

　　6、球形鍍金銅合金探針探頭，測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。

　　7、配合四端子測試夾具，測量電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻。

　　8、探頭可測試電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

　　總結：高溫四探針測試儀的應用及特點小編就知道這么多，看完本文您就應該有了基本的認識和了解相信大家都明白了吧！總的來說，希望對大家有所幫助。